配電柜試具，IP30試具，IP40試具，IP20C試具

配電柜IP20C試具

產(chǎn)品概述：

符合IEC61032圖6試具2、IEC60529IP2、GB4208IP2等標(biāo)準(zhǔn)要求,直徑為12.5。用以檢驗防止直徑大于等于12.5㎜的固異物進入設(shè)備內(nèi)部。

技術(shù)參數(shù)：

1）鋼球直徑：12.5mm

2）鋼球重量：15g±2g

3）參考標(biāo)準(zhǔn)：GB4208-2008、 IEC60529:2001、GB/T16842-2008圖6（試具2）。CX-IP3X試驗探針

配電柜IP30試具

產(chǎn)品概述：
符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

技術(shù)參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數(shù)字3）。
●可訂制帶3±0.3N推力。
使用方法：如圖所示，標(biāo)準(zhǔn)試驗指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件，并且35mm的圓擋板不能進入。
防止接近危險部件的試驗要求中，C、D型試驗探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
8.注意事項：請不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請使用分辨精度至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準(zhǔn)。由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品，使用時請輕拿輕放，妥善保管。
試驗探棒頂部可能會生銹，注意保養(yǎng)防護。

配電柜IP40試具
產(chǎn)品概述：
符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。

技術(shù)參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數(shù)字4/5/6）。

● 可訂制帶1±0.1N推力。
使用方法：如圖所示，標(biāo)準(zhǔn)試驗指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件，并且35mm的圓擋板不能進入。
防止接近危險部件的試驗要求中，C、D型試驗探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
8.注意事項：請不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請使用分辨精度至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準(zhǔn)。由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品，使用時請輕拿輕放，妥善保管。
試驗探棒頂部可能會生銹，注意保養(yǎng)防護。