3*8 32.768KHz晶振測試儀
CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術,實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。
2.主要特征
2.1 本機采用倒數計數技術,測量精度高,測量范圍寬,真正實現等精度測量,測量速度快,靈敏度高。
2.2 采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能/價格比。
2.3 整機采用大規模集成電路設計,CPLD器件的運用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了很大的提高,平均無故障工作時間≥10000h。
整機外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。
3.技術參數
3.1 測量范圍
頻率測量:A通道:1Hz～100MHz;
B通道:100MHz～1.6GHz(選件)
周期測量:A通道:10ns～1s
PPM測量:-9999～9999ppm
上、下限測量:可根據用戶所設定的上限參數FU、下限參數FL來測量被測頻率是否超出上、下限,超限則報警。
分檔測量:根據用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。 分檔值:Pr1～Pr8可在1～999ppm之間任意設置
分檔檔數:以中心頻率F0為中點左右分成16檔
累加計數:計數容量:0～109-1 (選件)
計數方式:鍵控、門控或外門控可選。
3.2 輸入特性
輸入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 輸入耦合方式:AC
3.2.3 波形適應性:正弦波、脈沖波
輸入電壓動態范圍:
A通道:30mVrms～250Vp～p
B通道: 30mVrms～1Vrms
3.2.5 A通道低通濾波器:-3dB 帶寬約100kHz
3.2.6 A通道衰減:×1或×20
3.3 測量誤差
3.3.1 頻率或周期測量誤差:±時基誤差±觸發誤差±LSD
100ns
其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)
閘門時間
觸發誤差:當被測信號的信噪比為40dB時,觸發誤差≤0.3%
PPM測量誤差:±時基誤差±觸發誤差±LSD
其中:LSD=(100ns/閘門時間)×106ppm
例如:閘門時間=1s時 LSD=0.1ppm
閘門時間=0.1s時 LSD=1ppm
3.3.3 計數誤差:±1
3.4閘門時間
固定閘門:10ms、100ms、1s、10s 四檔可選;
可調閘門:50ms～95ms 分10檔,每檔間隔5ms。
3.5 晶體振蕩器
標稱頻率:10MHz
頻率穩定度:5×10-6/d
(可根據用戶需求,選配更高量級的晶振。
如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。
3.6 外頻標輸入
輸入頻率:10MHz
輸入幅度:>1Vp～p 正弦波
3.7 顯示
13位0.4吋綠色高亮數碼管,三個單位LED指示燈(MHz、kHz、Hz),一個閘門LED指示燈(GATE),一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈(PPM)。
3.8 電源
電壓:交流220V±10%
